。”
“硅片的单晶硅纯度才是最可怕的，就算是信越的N13级别硅片，我们的仪器都可以测试出来，但是中子星硅片竟然是100%纯度，由此可见他们的的纯度已经超越仪器的检测极限了。”
其他工程师们也七嘴八舌的说道。
张海军听着工程师们的惊呼和讨论，连忙问道：
“你们说这个硅片的真的那么好?”
“没有错，简直是完美的存在。”四十多岁的工程师赞叹不已，说完又拿起其中一片方晶片：
“张总你看，这个硅片的中心区域和边缘区域的质量是一致的，这意味着什么?”
“意味着良品率！”张海军当然知道这意味着什么。
因为传统圆晶片不仅仅在切割方面会造成浪费，它还有另一个缺点，那就是中心区域和边缘区域的质量是不一样的，一般来说中心区域的质量优于边缘。
硅片表面的缺陷通过使部分芯片发生故障从而导致整个芯片失效。
有些缺陷位于芯片不敏感区，并不会导致芯片失效。
然而，由于日趋减小的工艺尺寸和不断增加的元器件密度，使得电路集成度有逐渐升高的趋势。
这种趋势使